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La nouvelle version 3.2 du logiciel ACS apporte de nouvelles fonctionnalités pour le test en parallè

communiqué de presse 1/2008

La nouvelle version 3.2 du logiciel ACS apporte de nouvelles fonctionnalités pour le test en parallèle et le tri paramétrique avec une cadence encore plus rapide

Cleveland Ohio Janvier 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la commercialisation de la nouvelle version 3.2 du logiciel ACS (Suite pour l'Automatisation de la Caractérisation). Ce logiciel est prévu pour le test des semi-conducteurs et la caractérisation au niveau du composant, du chip et de la cassette. De plus, cette version 3.2 renforce les puissantes fonctionnalités d'automatisation déjà existantes dans les systèmes intégrés ACS avec de nouvelles fonctions pour le test en parallèle sur sites multiples, l'aiguillage des résultats pour les applications de tri des éléments. Cette nouvelle version dispose aussi de nouvelles fonctionnalités de traçage de courbes au niveau du chip. Elle est également compatible avec les nouveaux Sourcemeter®, modèles 2635 et 2636, qui offrent une résolution de mesure en courant de1 fA. Ainsi, avec ces nouvelles fonctionnalités, le système est devenu le plus économique que l'on puisse trouver sur le marché, tout en offrant un haut degré de souplesse pour le test et une cadence beaucoup plus élevée. Il peut être utilisé sans surveillance particulière aussi bien en laboratoire qu'en production. Pour plus d'informations sur les systèmes de test intégré, ACS visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/070.

Plus de souplesse et plus de rapidité
Les nouvelles technologies des semi-conducteurs exigent un nombre de tests et un volume de données acquises toujours plus important, alors que les durées qui leur sont allouées sont plus réduites et avec des ressources encore plus limitées. Mais avec une plate forme de test d'une telle souplesse et pour un prix abordable, elle satisfait à ces exigences tout en conservant son architecture basée sur des unités du type générateur-mesure (SMU). Celles-ci sont pilotées par un logiciel d'application qui ne nécessite ni développements internes ni l'intervention d'une société spécialisée dans ce type d'applications. Le logiciel ACS dans sa version 3.2 satisfait à tous ces besoins et comporte des applications prêtes à l'emploi pour le modèle 4200-SCS, les Sourcemeter® série 2600 et autres systèmes basés sur l'architecture SMU. Le résultat est que le temps de mise sur le marché est d'autant plus réduit sans que le coût du test en soit affecté.

Tests sur sites multiples
L'aiguillage intégré des résultats du test en provenance de sites multiples nécessite des caractéristiques spéciales pour gérer le débit du test, depuis le premier façonnage sur le chip et tout au long de son chemin de fabrication jusqu'à l'aiguillage final du composant dans des paniers. Le logiciel ACS 3.2 permet une automatisation au niveau du chip ou de la cassette et, par conséquent, un test plus autonome et la saisie d'un plus gros volume d'échantillons statistiques en vue d'une modélisation et de la qualification du processus sans parler d'une optimisation de l'outil. Le logiciel ACS permet de définir les sites physiques et logiques d'une façon telle que le test en parallèle des structures et des composants est possible. Les résultats sont corrélés par rapport aux sites logiques dont ils sont issus avec le flux d'exécution. Le choix de cette exécution du test en parallèle ne nécessite en réalité que quelques clics pour passer d'un test séquentiel à un test en parallèle effectif.

La technologie qui permet ce passage est le TSP-Link™ de Keithley incorporé dans les Sourcemeter® de la série 2600. Le traçage des courbes au niveau du chip permet de naviguer aisément dans une cassette de chip, de visualiser le tracé de l'aiguillage de chaque chip dans des couleurs différentes. L'utilisateur n'a plus qu'à cliquer sur les sites logiques qu'il désire visualiser et les résultats sont immédiatement tracés avec les paramètres d'analyse définis au cours du développement du test.

Applications d'aiguillage et de tri
Le logiciel ACS peut gérer jusqu'à 100 000 éléments par chip, ce qui est un chiffre important en matière d'aiguillage d'éléments. Son utilitaire de description du chip incorpore des fonctions graphiques de zoom pour faciliter les comptages élevés des éléments du chip. De plus, pour accélérer la cadence de tri, le logiciel ACS permet des conditions de sortie programmables de sorte que, lorsqu'un élément est détecté hors standard, la séquence de test s'arrête pour passer immédiatement à l'élément suivant. D'autre part, la séquence de mise en place des sondes peut être optimisée par un modèle ou un site physique prioritaire pour tirer le meilleur parti de l'utilisation des sondes et des circuits de test. De nouvelles bibliothèques paramétriques, plus complètes, pour les deux séries 2600 et 4200-SCS réduisent la durée de paramétrage et les Points d'Accès Utilisateur (UAP) permettent d'élargir les caractéristiques et les fonctions du moteur d'exécution du test fourni par Keithley, y compris la création des fichiers d'aiguillage.

Une compatibilité étendue
Le logiciel ACS est maintenant compatible avec les nouveaux systèmes Sourcemeter® de la série 2600 qui offrent une sensibilité en courant beaucoup plus grande. Ceci est également valable avec le modèle 2635 en monovoie et le 2636 en double voie et dont la résolution est de 1 fA. Cette compatibilité est également assurée avec les générateurs de tension capables de produire une tension jusqu'à 200V. Les Sourcemeter® de la série 2600 sont particulièrement bien adaptés pour le test de fiabilité d'une grande variété de semi-conducteurs, y compris pour répondre à la problématique des tests de fiabilité des éléments au silicium gradués tels que les NBTI (polarisation négative pour l'instabilité en température). Le logiciel ACS permet aussi le traçage des résultats en temps réel, ce qui procure une certaine "visibilité" sur les tests de fiabilité tels que pour les TDDB, NBTI, HCI, etc.

Résumé des nouvelles fonctionnalités

•Compatibilité des sites logiques et physiques avec les tests en parallèle de sites multiples.
•Possibilité de 100 000 éléments par chip
•Optimisation des séquences prioritaires de sites ou modèles
•Choix programmable des conditions de sortie sur le composant, les sous site, les sites, les chips et le niveau du projet
•Points d'accès utilisateur (UAP) qui permettent à l'utilisateur d'étendre les caractéristiques et les fonctions du moteur d'exécution fourni par Keithley
•Plan échantillon cassette
•Aiguillage de priorités dans 16 paniers
•Aiguillage des sites logiques pour compatibilité avec le test en parallèle sur sites multiples
•Traçage de courbes au niveau du chip qui rassemble à la fois les données d'analyse graphiques et la navigation à ce même niveau : il suffit de cliquer sur un site logique pour visualiser l'analyse graphique du test choisi
•Traçage en temps réel des résultats de test et d'analyse
•Nouvelles bibliothèques paramétriques et de fiabilité, plus complètes
•Compatibilité avec les Sourcemeter® modèles 2635 et 2636

Disponibilité
Le prix du logiciel ACS est fonction de chaque configuration particulière et sur les options de personnalisation des systèmes. Pour plus d'informations, contactez directement Keithley. La disponibilité de ce logiciel est immédiate. Pour plus d'informations sur les systèmes de test intégrés avec l'ACS, ou toute autre solution de test des semi-conducteurs, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/070 ou contactez: www.keithley.com.

Keithley Instruments
Avec ses 60 années d'expertise en matière de mesures, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et systèmes de mesures électriques avancées, dans une gamme allant du continu à la RF (radiofréquences). Ses produits permettent de trouver la solution aux besoins émergeants en matière de test, de surveillance de processus, de développements de produits et de la recherche. Les clients de Keithley sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans le domaine de l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, la caractérisation des semi-conducteurs et des chips sans oublier le test en production de produits tels que les ensembles électroniques ou les portables. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est à la fois une technologie assurant la précision des mesures alliée à une pleine compréhension de leurs applications afin d'améliorer la qualité, la cadence et le rendement de leurs produits.

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Les produits et les noms des sociétés énumérées ici sont des marques ou des appellations commerciales de leur société respective.


Informations:
Keithley Instruments GmbH
Josef W. Floßmann
Tel.: +49-89-84 93 07-73
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PRismaPR
Gabriele Amelunxen
Tel.: +49-8106-24 72 33
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