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Keithley rend le test C-V/I-V à impulsion plus rapide, plus simple et encore plus économique

communiqué de presse 23/2007



***SEMICON Europa et Productronica Nouveauté***

Keithley rend le test C-V/I-V à impulsion plus rapide, plus simple et encore plus économique avec le nouveau module C-V intégré et le logiciel pour le 4200-SCS, leader actuellement sur le marché

Cleveland, Ohio, SEMICON Europa, Stuttgart, octobre 2007 * * *Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un nouvel instrument de mesure C-V pour être incorporé à son puissant système de caractérisation des semi-conducteurs, le modèle 4200-SCS. Ce nouveau modèle, le 4200-CVU est livré sous forme d'un module enfichable dans l'un des connecteurs libres du 4200-SCS. Il permet des mesures de capacités rapides et simples à exécuter dans une gamme allant du femptoFarad (fF) au nanoFarad (nF) et dans une plage de fréquences de 10 kHz à 10MHz. Développé avec les composants les plus modernes et les plus performants que l'on peut trouver sur le marché, le modèle 4200-CVU fait l'objet de 8 brevets utilisés dans une conception innovante. Celui-ci offre la possibilité d'un paramétrage intuitif du type "pointer et cliquer", des connexions simples et des modèles d'éléments intégrés qui font disparaître toute incertitude sur l'obtention de mesures C-V valides. Les utilisateurs de tous niveaux d'expérience peuvent effectuer des tests C-V au même titre que s'ils étaient des experts. Pour plus d'informations, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/078.

Le modèle 4200-CVU dispose d'un nombre extensible de bibliothèques de test qui sont à la disposition de l'utilisateur pour améliorer largement l'efficacité du test. Il est même possible d'atteindre encore une plus grande efficacité avec le modèle 4200-LS-LC-12, qui est une matrice de commutation spéciale, présentée sous forme d'une carte enfichable avec ses câbles et adaptateurs qui permettent d'exécuter des tests C-V/I-V étroitement intégrés à partir d'une simple pointe de touche. Le modèle 4200-PROBER-KIT est un kit optionnel qui facilite la connexion des sondes les plus courantes au modèle 4200-SCS. L'ensemble résultant est un système de test C-V exhaustif, aussi facile à mettre en oeuvre qu'à utiliser pour exécuter des tests I-V.

Compatible avec de nombreuses applications
Avec les dernières nouveautés qui viennent d'être ajoutées à sa ligne de produits 4200-SCS, Keithley est propulsé à la place de leader dans l'instrumentation C-V ; il est maintenant en mesure de satisfaire une vaste gamme d'applications à partir d'un seul instrument de test des semi-conducteurs. Il s'accommode d'une grande diversité de sondes, de différents types de composants, de technologies de traitement et de méthodologies de mesures, y compris le test I-V par impulsions. Le 4200-CVU et ses modules optionnels peuvent résoudre les problèmes que d'autres systèmes de caractérisation sont dans l'impossibilité de traiter, soit parce qu'ils ne disposent pas de la fonctionnalité de mesure C-V/I-V par impulsions intégrée soit parce que leur compatibilité est limitée au niveau des interfaces utilisateur et des bibliothèques de programmes. De plus, le moteur d'exécution du test, remarquablement souple et puissant facilite largement l'inclusion des mesures I-V, C-V et par impulsions dans une même séquence. Ainsi, le modèle 4200-SCS peut rassembler un grand nombre d'outils de test électriques en une seule solution de caractérisation étroitement intégrée. Néanmoins, le 4200-SCS continuera d'être compatible avec les mesures C-V/I-V et par impulsions et autres méthodologies qui utilisent d'autres instruments d'origine diverse. Ces caractéristiques font du système 4200-SCS/CVU le meilleur choix pour :

· Les laboratoires de développement/traitement et de développement/fiabilité de la technologie des semi-conducteurs

· Les laboratoires de recherche sur les matériaux et composants

· Tous les laboratoires qui nécessitent des instruments sur table qu'ils soient DC ou par impulsions

· La plupart des laboratoires et des utilisateurs qui emploient des instruments à usage multiple ou des instruments multiples dans un espace réduit

Un logiciel puissant
Le modèle 4200-SCS a toujours possédé l'interface (GUI) la plus intuitive du marché, basée sur Windows, par rapport à tous les systèmes de caractérisation des semi-conducteurs du marché. Développée depuis de nombreuses années à partir d'échanges interactifs avec les utilisateurs, cette simplicité d'utilisation se poursuit avec les modules de logiciel et matériel du nouveau modèle 4200-CVU, qui constituent l'extension naturelle de son environnement interactif et son moteur d'exécution. Le matériel du 4200-CVU est compatible avec un vaste ensemble de programmes d'échantillonnage, de bibliothèques de test et d'exemples d'extraction de paramètres intégrés, prêts à l'utilisation dès la mise en service du système. Les huit bibliothèques couvrent la plus grande diversité de tests et d'analyses C-V, qui puisse exister. En outre, elles sont utilisables pour les applications standard, y compris pour les mesures C-V, C-t et C-f et pour l'analyse de structures K hautes et basses, pour les composants type MOSFET, les BJT, les diodes, les mémoires flash, les cellules photovoltaïques, les composants hybrides III-V et les nanotubes au carbone (CNT). Outre les jonctions, les broche à broche et les capacités d'interconnexion, le logiciel d'analyse et d'extraction des paramètres fournit aussi les profiles de dopage, les Tox, les ions mobiles et la durée de vie des porteurs. Ces tests comportent également divers balayages C-V linéaires et personnalisés aussi bien que les valeurs de C en fonction du temps et de la fréquence.

A l'encontre d'autres systèmes de caractérisation, les programmes d'analyse et d'extraction C-V/I-V de Keithley fonctionnent sous un environnement ouvert et bien documenté, ce qui permet à l'utilisateur de faire aisément des modifications et de personnaliser les sous-programmes. Des projets d'échantillonnage intégrés et développés à partir du savoir-faire des ingénieurs de Keithley aident à diminuer la durée de développement du programme.

De plus, le modèle 4200-CVU est livré avec une grande diversité d'outils de diagnostique avancés pour renforcer l'assurance de la validité des résultats des tests I-V. Vous n'êtes pas sûr de la précision des résultats de votre test? Il vous suffit de cliquer sur le bouton "Confidence Check" (test de confiance) sur l'écran ou d'utiliser le panneau avant temps réel pour isoler des portions de paramétrage du test et évaluer leur validité.

Les fonctionnalités du modèle 4200-SCS dont les preuves ne sont plus à faire, fournissent la meilleure expérience à l'utilisateur avec une période d'apprentissage des plus courtes. Elles permettent de résoudre les problèmes auxquels sont confrontés les responsables des laboratoires de semi-conducteurs lorsqu'ils s'efforcent d'augmenter la productivité et l'efficacité de la caractérisation et modélisation des composants.

Etudié pour une cadence élevée
Beaucoup du crédit apporté à la précision de mesure exceptionnelle au modèle 4200-CVU, à sa rapidité et son efficacité, est dû à la rapidité du matériel de mesure numérique et à l'étroite intégration du logiciel et du matériel aussi bien qu'aux principes de conception bas bruit de fond du système, auxquels Keithley s'est toujours attaché. Cette combinaison d'efforts veut dire que le modèle 4200-CVU peut améliorer la productivité de façon significative, qu'il s'agisse d'une tâche aussi simple que le paramétrage d'une mesure ou de la gestion d'une séquence de test prédéfinie à partir d'un simple clic ou d'une tâche aussi complexe que le déclenchement et le traçage graphique de balayages C-V multiples. L'architecture numérique de ce système rapide signifie que le modèle 4200-CVU peut exécuter et tracer des balayages C-V en temps réel plus rapidement que tout autre système de la concurrence.

Un environnement de test hautement polyvalent
En plus du test I-V/C-V et par impulsions, exécuté dans un environnement souple et totalement intégré, le modèle 4200-SCS dispose de plusieurs autres options. Parmi celles-ci, un choix de huit supports ou unités de type générateur/mesureur DC de forte puissance, les SMU, des générateurs de signaux analogiques et d'impulsions double voies et d'un oscilloscope numérique intégré. De la même manière que le modèle 4200-CVU, tous ces instruments sont présentés sous forme de cartes enfichables dans le 4200-SCS et sont contrôlés à partir du logiciel Keithley Test Environment Interactive (KTEI, version 7.0) qui est un outil puissant pour l'environnement de test. Cette interface du type "pointer et cliquer" permet de rationaliser le paramétrage, le contrôle des séquences de test et l'analyse des données. Le logiciel KTEI peut aussi contrôler une grande diversité d'instruments externes parmi lesquels on trouve la plupart des sondes, des hot chucks et des installations de test, aussi bien que les matrices de commutation de haute intégrité de Keithley, qui apportent la plus grande souplesse de connexions que l'on peut trouver dans l'industrie.

Protection contre l'obsolescence
De nombreux constructeurs d'instruments produisent une ligne continue d'appareils qui ne sont pas compatibles les uns avec les autres de sorte qu'un nouveau produit signale la fin de l'utilisation du précédent, d'où une perte d'investissement. La politique de mises à jour continuelles suivie par Keithley, aussi bien pour le matériel que le logiciel du 4200-SCS signifie que le module 4200-CVU, avec tout son logiciel et son matériel optionnel peuvent ramenés à la compatibilité avec la première version du 4200-SCS. Cette politique simple de mises à jour élimine ainsi le besoin de racheter régulièrement un nouvel analyseur paramétrique afin d'être toujours au top avec les dernières innovations de la technologie des composants ou des matériaux. Les anciens systèmes peuvent ainsi être conservés et suivre l'évolution des besoins évolutifs de l'industrie de façon la plus économique ; c'est pourquoi les investissements mis en jeu avec le 4200-SCS vont bien au-delà des autres solutions de test proposées par la concurrence. Qui plus est, cette philosophie implique que le matériel externe et le développement des programmes de test sont réduits à un minimum.

Disponibilité
Le modèle 4200-CVU et ses kits d'options seront disponibles dès le 1er décembre 2007. Pour plus d'informations, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/078, vous pourrez ainsi apprendre pourquoi le modèle 4200-SCS est l'outil le plus polyvalent pour tous les laboratoires de semi-conducteurs qui utilisent les tests DC, C-V et par impulsions. Vous pourrez aussi obtenir des informations sur les autres solutions de test des semi-conducteurs de Keithley ou, tout simplement contacter: www.keithley.com.



A propos de Keithley
Avec ses 60 ans d'expertise dans la mesure, Keithley Instruments est devenu un leader mondial pour les instruments de test électrique et de mesure avancés et pour les systèmes allant du courant continu aux radiofréquences. Ses produits satisfont les besoins émergeants de la mesure pour le test en production, la surveillance de processus, le développement des produits et la recherche. Sa clientèle est constituée de scientifiques et d'ingénieurs dans le monde entier dans le domaine de l'industrie électronique et plus particulièrement ceux qui s'intéressent à la recherche sur les matériaux avancés, les semi-conducteurs et à la caractérisation des chips; Keithley propose également des produits pour le contrôle en fin de chaîne de production tels que des ensembles électroniques ou des éléments portables sans fil. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est un ensemble de technologies pour la mesure de précision et une grande connaissance de leurs applications ce qui leur permet une amélioration de la qualité, de la cadence et du rendement de leurs produits.

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Les produits et les sociétés nommés dans cet article sont des marques déposées ou des noms commerciaux de leurs propres sociétés



Informations:

Keithley Instruments GmbH
Josef W. Floßmann
Tel.: +49-89-84 93 07-73
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PRismaPR
Gabriele Amelunxen
Tel.: +49-8106-24 72 33
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