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Keithley lance des nouveaux systèmes de test intégrés, plus rapides et plus faciles à utiliser pour

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communiqué de presse 10/2007

Keithley lance des nouveaux systèmes de test intégrés, plus rapides et plus faciles à utiliser pour les semi-conducteurs

Cleveland, Ohio, avril 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce le lancement d'une Suite de systèmes de Caractérisation Automatisés, ACS. Ces systèmes sont intégrés et destinés à la caractérisation des semi-conducteurs au niveau du composant, du chip et de la cassette. Avec les différents éléments intégrés dans l'ACS, Keithley a créé une grande diversité de systèmes de test, totalement configurables et souples qui offrent des fonctionnalités de mesure inégalées dans ce domaine. De plus, chaque système ACS est doté d'un puissant logiciel, orienté vers l'automatisation. Il permet des mesures plus rapides et d'élaborer des ensembles d'une grande souplesse sous un même logiciel, capables de satisfaire tous les besoins que l'on rencontre dans les applications. Pour plus d'informations sur ces systèmes ACS, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/070.

Keithley a regroupé plusieurs de ses systèmes de test qu'il a intégrés sous le titre d'ACS, ce qui donne la possibilité aux systèmes résultant d'effectuer des mesures très variées et uniques à ce jour :

" Le modèle 4200-SCS, particulièrement performant pour la caractérisation des semi-conducteurs, est équipé d'un générateur/mesure I-V et d'ensembles de test en mode impulsionnel spécialisés, tels que le modèle 4200-PIV pour le test des matériaux semi-conducteurs avancés.
" Les Sourcemeter® de la série 2600 sont équipés d'un processeur TSP-Link™ et du Test Script Processor (TSP)™ pour les systèmes de comptage des voies I-V à échelle programmable, les mesures rapides en parallèle et les séquences de test complexes pour des applications telles que NTBI au vol ou la caractérisation d'un composant sur chip.
" Les Sourcemeter® de la série 2400 possèdent des générateurs de haute tension et de courants forts, qui n'ont pas d'équivalents pour des applications telles que les MOSFET de forte puissance et les pilotes d'affichage.
" Les appareils de commutation optionnels, ainsi que les C-meters et les générateurs d'impulsions externes qui s'ajoutent aux fonctionnalités propres de l'instrument.
" Les systèmes ACS sont utilisables dans les configurations de bancs de test de base ou sont intégrés en usine à partir de racks standard.

Capables de satisfaire toute la problématique du test
Les ingénieurs de test des semi-conducteurs sont confrontés à un grand nombre de problèmes. D'un côté, ils ont à faire face à une grande diversité de mesures très spécifiques et doivent ainsi faire appel à des techniques originales pour des technologies avancées telles que les CMOS, LDMOS et les mémoires. D'un autre côté, les technologies nouvelles exigent de plus en plus de tests et nécessitent des acquisitions de données dans un intervalle de temps de plus en plus réduit et avec moins de moyens. Jusqu'à maintenant, les ingénieurs de test ont toujours utilisé les instruments qui offraient le plus de souplesse et pouvaient effectuer les mesures les plus performantes mais qui nécessitaient une utilisation sous confinement ou le développement d'un logiciel élaboré par quelqu'un d'autre ; cette conception avait un impact certain sur le temps de développement avant la commercialisation du produit et une répercussion indéniable sur les coûts globaux du test. Les systèmes intégrés ACS que propose Keithley répondent à ces besoins en réunissant à la fois la souplesse et des fonctionnalités de mesure inégalées que possèdent ces instruments avec en prime, le logiciel nécessaire, orienté sur l'automatisation et suffisamment souple pour s'adapter aux différentes applications. Ces nouveaux systèmes ACS constituent l'outil idéal pour la caractérisation paramétrique des semi-conducteurs aussi bien pendant la phase de recherche et développement (R&D) que pour la technologie du développement elle-même (TD), l'assurance qualité/fiabilité (QRA) et les tests en production à petite échelle.

L'automatisation au niveau du chip ou de la cassette permet des tests sans la présence humaine et l'acquisition d'un très grand nombre de données statistiques pour la modélisation et la qualification d'un processus aussi bien que pour une utilisation optimale de l'outil. Au niveau du chip, l'ACS dispose d'un utilitaire de description du chip (Wafer description Utility) et d'une fonction de représentation topographique. L'utilisateur peut ainsi créer très aisément ces fichiers de description avec une topologie intégrée. Celle-ci est représentée en couleurs codées et mises à jour en temps réel au cours de l'exécution du test pour afficher les conditions accepté/refusé, ce qui apporte une vision claire sur les résultats et permet de s'assurer que ceux-ci sont effectivement positifs.

Mais l'ACS est doté d'une autre innovation intéressante : un contrôleur de sonde interactif. Celui-ci permet de contrôler le déplacement du chip avec le logiciel ACS, au cours de l'exécution du test pour en valider les paramètres sur ses structures réelles et, pendant que le chip est en place, de naviguer sur une région à problème et d'exécuter le test manuellement. Un grand nombre de pilotes disponibles permet une intégration sans problèmes de sondes très diverses semi ou entièrement automatiques.

Les systèmes ACS sont configurés et intégrés avec l'expertise de Keithley dans les tests de semi-conducteurs. Ils possèdent en outre des fonctionnalités de personnalisation. Ceci comprend les programmes de test sous forme de macros, scripts et interfaces GUI personnalisées avec les interconnexions nécessaires, les câbles, les commutations, les adaptations de cartes de sondes ainsi que des prestations concernant l'installation, la formation et les applications.

Disponibilité
Le prix des systèmes ACS est basé sur la configuration spécifique et les options de personnalisation. La disponibilité est immédiate. Pour plus d'informations sur ces systèmes, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/070 ou contactez: www.keithley.com.


A propos de Keithley
Avec ses 60 ans d'expertise dans la mesure, Keithley Instruments est devenu un leader mondial pour les instruments de test électrique et de mesure avancés et pour les systèmes allant du courant continu aux radiofréquences. Ses produits satisfont les besoins émergeants de la mesure pour le test en production, la surveillance de processus, le développement des produits et la recherche. Sa clientèle est constituée de scientifiques et d'ingénieurs dans le monde entier dans le domaine de l'industrie électronique et plus particulièrement ceux qui s'intéressent à la recherche sur les matériaux avancés, les semi-conducteurs et à la caractérisation des chips ; Keithley propose également des produits pour le contrôle en fin de chaîne de production tels que des ensembles électroniques ou des éléments portables sans fil. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est un ensemble de technologies pour la mesure de précision et une grande connaissance de leurs applications ce qui leur permet une amélioration de la qualité, de la cadence et du rendement de leurs produits.

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Les produits et les sociétés nommés dans cet article sont des marques déposées ou des noms commerciaux de leurs propres sociétés

Informations:

Keithley Instruments GmbH
Josef W. Floßmann
Tel.: +49-89-84 93 07-73
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PRismaPR
Gabriele Amelunxen
Tel.: +49-8106-24 72 33
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