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Keithley annonce un accord de partenariat avec la société Stratosphere Solutions...

communiqué de presse 4/2008

Keithley annonce un accord de partenariat avec la société Stratosphere Solutions pour permettre un Processus de Caractérisation Avancé dans le domaine sub-65 nm

Cleveland, Ohio, février 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un accord de partenariat avec la société Stratosphere Solutions, Inc. qui est un fournisseur de solutions pour l'amélioration des cadences de test paramétrique à l'usage des fabricants de circuits intégrés. Ce partenariat concerne le développement de processus avancés et de surveillance à l'aide d'une technologie matricielle TEG (groupe d'éléments de test).

Les variations du processus paramétrique au niveau sub 65 nm posent un réel problème aux ingénieurs concepteurs et aux ingénieurs de test car les fabricants de circuits intégrés cherchent toujours à produire des composants de dimensions de plus en plus réduites. D'autre part, l'industrie des semi-conducteurs fait ressortir un besoin de plus en plus aigu pour la surveillance des processus en production qui sont extrêmement sensibles afin d'optimiser les performances des circuits intégrés sans pour autant sacrifier les cadences.

Keithley et Stratosphere Solutions vont maintenant travailler ensemble pour apporter à leur clientèle respective une infrastructure de caractérisation inégalée prenant en compte les volumes importants, les cadences élevées avec des mesures paramétriques fiables avec le système de test paramétrique S600 de Keithley et le StratoPro™ IP pour assurer la satisfaction du client.

"Du fait que la technologie repousse toujours plus loin les limites supérieures de la miniaturisation des composants à l'échelle nanométrique, la technologie de la mesure ne doit pas seulement suivre l'évolution mais devancer la demande des fabricants pour la conception et le test des composants" souligne Mark Hoersten, vice président de Keithley et Directeur Commercial. "En tant que leader dans la technologie du test des semi-conducteurs, Keithley se réjouit de la collaboration avec une société qui, elle-même est un leader dans l'industrie pour la conception de solutions innovantes destinée aux applications les plus pointues".

"Nous sommes particulièrement intéressés par le fait de travailler avec Keithley pour développer des solutions innovantes, inédites et utilisables par nos deux sociétés, solutions qui sont à la fois de premier ordre et critiques pour notre industrie" reprend Prashant Maniar, directeur de la stratégie chez Stratosphere Solutions. Au fur et à mesure que la technologie progresse vers le sub 45nm et au-delà, un nombre de plus en plus grand de nos clients est confronté à la problématique endémique des cadences de test paramétrique. Notre solution étroitement intégrée et éprouvée est la base qui permet d'atteindre une cadence de test paramétrique plus élevée, de réduire la durée du test et d'améliorer la région d'intérêt (ROI)".

Le système de test paramétrique de la série S600 aide les fabricants et les fondeurs de chips à diminuer le prix de revient des tests en les rendant adaptables aux changements de technologie des composants. Leur aptitude à être réutilisés, pour un très faible coût, à des mesures en DC et RF avec les matrices TEG apportent un potentiel de réutilisation de l'équipement capital et par conséquent, contribuent à abaisser le coût du test. Le dernier-né de la série des systèmes paramétriques de la série S600 est le modèle S680, qui réunit en un seul système les fonctionnalités de test en parallèle, de sensibilité en DC, une résolution pouvant atteindre le femptoamère et la possibilité de mesures RF sur les paramètres-s jusqu'à 40 GHz. Ceci permet d'atteindre la cadence la plus élevée dans l'industrie actuellement avec un prix de revient particulièrement bas pour les mesures au nœud de 65 nm et au-delà.

Les structures matricielles TEG, telles que la suite StratoPro de Stratosphere qui a fait l'objet d'une distinction, deviennent des missions plus en plus critiques pour la caractérisation des processus des semi-conducteurs au fur et à mesure que les géométries se miniaturisent et passent en dessous des 65 nm. Ainsi, les sociétés de pointe dans cette industrie des semi-conducteurs désirent disposer d'un produit standard tel que le StratoPro capable de densités mille fois supérieures pour la même surface de silicium, de mesures de très haute résolution et une intégrité globale de test nettement améliorée.

La suite StratoPro™ est une plateforme IP au silicium de type Parametric ActiveMatrix™ qui permet aux fabricants et aux clients fab-lite de caractériser le composant avec une extrême précision et d'établir des statistiques sur les paramètres électriques à l'intérieur même de l'élément et leur degré de variations. Les clients choisissent la plate forme silicium bien connue StratoPro en 65 nm et 45 nm parce qu'elle apporte une densité de test de 10 à 1000 fois supérieure, exécute des mesures de très haute résolution et, si elle est connectée à la plate forme de Keithley, permet une diminution significative de la durée du test. Les fabricants utilisent la suite StratPro™ dès le début du développement du processus avec ses fonctionnalités de production de rampe et de surveillance en production. Les clients fab-lite utilisent cette solution pour caractériser les variations du processus qui dépendent de la conception.

A propos de Stratosphere Solutions
Cette société est le fournisseur de pointe d'une solution paramétrique innovante pour l'amélioration des cadences ; elle comporte également une plate forme IP au silicium éprouvée et des applications de modélisation qui permettent de réduire l'impact de la variabilité sur les performances et la cadence paramétrique. Ses clients de base sont des fabricants de semi-conducteurs avancés connus dans le monde entier qui utilisent des processus allant de 130 à 45 nm. Pour plus d'informations, visitez le site www.stratosol.com.

Pour plus d'informations sur les systèmes de test paramétriques de Keithley ou sur l'un des ses systèmes de test, visitez: www.keithley.com/products/semiconductor ou contactez: www.keithley.com.

Keithley Instruments
Avec ses 60 années d'expertise en matière de mesures, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et systèmes de mesures électriques avancées, dans une gamme allant du continu à la RF (radiofréquences). Ses produits permettent de trouver la solution aux besoins émergeants en matière de test, de surveillance de processus, de développements de produits et de la recherche. Les clients de Keithley sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans le domaine de l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, la caractérisation des semi-conducteurs et des chips sans oublier le test en production de produits tels que les ensembles électroniques ou les portables. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est à la fois une technologie assurant la précision des mesures alliée à une pleine compréhension de leurs applications afin d'améliorer la qualité, la cadence et le rendement de leurs produits. www.keithley.com.

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Les produits et les noms des sociétés énumérées ici sont des marques ou des appellations commerciales de leur société respective.





Informations:


Keithley Instruments GmbH
Josef W. Floßmann
Tel.: +49-89-84 93 07-73
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PRismaPR
Gabriele Amelunxen
Tel.: +49-8106-24 72 33
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