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La nouvelle version du logiciel de test paramétrique de Keithley accroît les performances des tests

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Communiqué de presse 21/2006



La nouvelle version du logiciel de test paramétrique de Keithley accroît les performances des tests en parallèle et RF et facilite l'utilisation de ses fonctions



Cleveland, Ohio, Decembre 2006 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la commercialisation d'une nouvelle version V5.2 de son logiciel de tests interactifs, KTE, utilisé avec le système paramétrique, série S600. La version KTE V5.2 apporte un certain nombre de caractéristiques nouvelles qui lui procurent une avance radicale sur les cadences de test des circuits et les matériaux de pointe, comme par exemple, ceux qui nécessitent des fréquences RF; cette version présente aussi des améliorations substantielles concernant les sous-programmes de test en parallèle utilisés en laboratoire ou en production. Enfin, elle comporte des améliorations sur l'utilisation du logiciel lui-même, qui sont principalement orientées vers une simplification notable de la conduite du test. Pour plus d'informations sur cette version du KTE V5.2, visitez notre site: http://.keithley.com/pr/067.



Cette nouvelle version du logiciel KTE est significative de l'engagement continu de Keithley dans l'amélioration permanente de ses produits et dans sa politique d'économie d'investissement en élargissant les capacités de ses systèmes existants. Cette stratégie contribue largement à l'abaissement du prix de revient du test. Keithley sait aussi faire évoluer ses capacités pour satisfaire à la demande du marché, demande à laquelle ses clients sont de plus en plus étroitement confrontés : par exemple, Keithley peut offrir des tests de plus en plus complets et de plus en plus en aval dans la production et avec une acquisition statistique de groupes de données RF significative et nécessaire pour définir un modèle d'étalonnage.



Le KTE est un puissant logiciel de développement et de production pour tester les chips, capable de guider l'utilisateur tout au long de la réalisation d'un plan de test. Il permet aussi de créer des tests électriques particuliers au niveau local à partir de bibliothèques prédéfinies, permettant ainsi de définir à la fois les paramètres et les connexions.



Le KTE V5.2 a été prévu pour fonctionner avec la série des systèmes de test paramétrique S600. Cette série est utilisée pour une grande variété de tests tels que le contrôle de processus, la mise au point et l'optimisation des équipements, le test des chips, la modélisation des composants et leur caractérisation. Le S600 est utilisé depuis plus de cinq générations de technologie dans l'industrie des semi-conducteurs ; c'est pendant toute cette longue période que des économies d'investissement record ont été réalisées en raison de la politique d'extension des précédentes versions, permettant ainsi un abaissement du coût des tests au bénéfice de ses clients.



Un support de test en parallèle supérieur

Les améliorations les plus significatives de la nouvelle version du KTE V5.2, se trouvent dans le support de test en parallèle. En effet, le mode parallèle est devenu la méthode de base pour l'accroissement des cadences et l'abaissement des coûts de test sur les semi-conducteurs car il permet d'acquérir un volume de données plus important sur une durée plus courte pendant la phase de développement ou encore, le même volume de données sur une durée plus limitée en production. D'autres caractéristiques nouvelles de cette version V5.2 du KTE portent sur le support pleinement éprouvé du sous-programme PT_Execute ; ce sous-programme a pour but d'évaluer rapidement les tests parallèles par rapport aux tests série. Les méthodes d'évaluation plus anciennes impliquaient une utilisation compliquée de guides utilisateur ce qui demandait beaucoup de temps et de nombreuses ressources en ingénierie. Or, le sous-programme PT_Execute s'exécute maintenant après quelques frappes de touches seulement, ce qui diminue radicalement les temps de développement de l'ingénierie et les coûts d'investissement. Une autre amélioration d'importance est le FMI (Interverrouillage Force/Mesure), qui est une solution à base de micrologiciel/logiciel pour réduire la diaphonie, le bruit et les fluctuations de mesure et par suite, améliorer les résultats.



Des tests RF supérieurs

Les améliorations offertes par le nouveau KTE V5.2, parmi lesquelles l'étalonnage LRM, sont beaucoup plus utiles que les techniques existantes, contrairement à certaines offres comparables, que l'on trouve sur le marché actuellement, car elles permettent des mesures et des étalonnages corrélés en environnement de production. Ces apports de la nouvelle version du KTE complètent le système de test paramétrique S680 en ce sens que les mesures DC et RF peuvent être précises et simultanées ce qui est souhaitable aussi bien en laboratoire qu'en production.



Les messages d'erreur sont accompagnés de commentaires qui guident l'utilisateur dans sa recherche de pannes lui facilitant ainsi la tâche. Mais il y a plus, avec le suivi de l'emplacement des pointes de touches d'étalonnage pour prédire l'usure de la sonde. Le logiciel de navigation du test RF permet un compactage rapide et massif de gros volumes de données pour déterminer les paramètres RF les plus intéressants qui permettent aux ingénieurs d'exécuter des contrôles de processus en temps réel.



Support puissant pour les nouveaux sous-systèmes

La version KTE V5.2 apporte également un meilleur support pour les sous-systèmes instrumentaux intégrés en faisant appel à des moyens orientés vers l'accélération du rendement du système. Elle optimise aussi une grande variété de nouveaux sous-systèmes, y compris avec un nouvel appareil de mesure LCR qui augmente la cadence des mesures de capacités, jusqu'à un facteur 2, avec un analyseur de spectre (appareils de plus en plus utilisés comme référence pour l'analyse des circuits) et avec les générateurs d'impulsions/modèles de la série 3400. Cette série satisfait une demande de plus en plus grande pour les tests par impulsions pour la caractérisation des semi-conducteurs avancés et la recherche sur les matériaux. Ces applications sont dirigées principalement par une tendance continue vers la miniaturisation des composants et la rapidité de fonctionnement de nombreux circuits semi-conducteurs et matériaux.



Une simplicité d'utilisation accrue

Le KTE V5.2 offre encore d'autres avantages significatifs concernant la simplicité d'utilisation. Ces avantages portent sur le KRM (Keithley Recipe Manager) et prennent en compte de nombreuses astuces relatives à l'édition et à la manipulation avec une entrée à partir d'un seul moyen (sous-programme de test), réduisant ainsi l'intervention du programmeur. D'autres caractéristiques ont aussi été ajoutées comme par exemple la mise en surbrillance du texte trouvé à partir d'une fonction de recherche et la fonction Undo (défaire) qui permet de faire une édition pendant une entrée de données. Pour plus d'informations concernant le KTE V5.2 ou l'une des solutions de test des semi-conducteurs, visitez notre site http://www.keithley.com/pr/067 ou contactez: www.keithley.com.





Keithley Instruments

Avec ses 60 années d'expertise en matière de mesures, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et systèmes de mesure électriques avancées, dans une gamme allant du continu à la RF (radiofréquences). Ses produits permettent de trouver la solution aux besoins émergeants en matière de test, de surveillance de processus, de développement de produits et de la recherche. Les clients de Keithley sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans le domaine de l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, la caractérisation des semi-conducteurs et des chips sans oublier le test en production de produits tels que les ensembles électroniques ou les portables. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est à la fois une technologie assurant la précision des mesures alliée à une pleine compréhension de leurs applications afin d'améliorer la qualité, la cadence et le rendement de leurs produits.



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Informations:



Keithley Instruments GmbH

Josef W. Floßmann

Tel.: +49-89-84 93 07-73

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PRismaPR

Gabriele Amelunxen

Tel.: +49-8106-24 72 33

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